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Forschungsschwerpunkt
Elektromigrationsberücksichtigung beim Entwurf analoger und
Mixed-Signal-Schaltungen
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Entwurfsmethoden mit
Vorausschau der Strombelastung zur Vermeidung von
Elektromigrations-Erscheinungen bei analogen und
Mixed-Signal-Schaltungen
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Entwicklung von effektiven
Stromdichte-Verifikationsmethoden für Leiterbahnen und Vias
unterschiedlichster Geometrien
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Veröffentlichungen (Auswahl): |
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J. Lienig, "Introduction
to Electromigration-Aware Physical Design," Invited Talk, [pdf]
Proceedings of the International Symposium on Physical Design
(ISPD'06), San Jose, CA, pp. 39-46, April 2006.
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G. Jerke, J. Lienig,
J. Scheible "Reliability-Driven Layout Decompaction for Electromigration
Failure Avoidance in Complex Mixed-Signal IC Designs," [pdf,
slides] Proceedings of the Design Automation Conference (DAC'04),
San Diego, CA, pp. 181-184, June 2004.
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G. Jerke, J. Lienig "Hierarchical
Current Density Verification in Arbitrarily Shaped Metallization Patterns of
Analog Circuits," [pdf]
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and
Systems, vol. 23, no. 1, pp. 80-90, Jan. 2004.
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J. Lienig, G. Jerke
"Elektromigration -- eine neue Herausforderung beim Entwurf elektronischer
Baugruppen," F&M Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Mikroelektronik, Part
I/Teil I: Ursachen und Beeinflussungsmöglichkeiten [pdf]:
pp. 36-39, Oct. 2002, Part II/Teil II: Stromabhängige Verdrahtung von
Leiterbahnen [pdf]:
pp. 26-28, Jan./Feb. 2003, Part III/Teil III: Berechnung von Stromdichten [pdf]:
pp. 12-15, March 2003.
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J. Lienig, G. Jerke "Current-Driven
Wire Planning for Electromigration Avoidance in Analog Circuits," [pdf,
slides] Proceedings of the 8th Asia and South Pacific Design Automation
Conference (ASP-DAC), Kitakyusyu, Japan, pp. 783-788, 2003.
Prof. Dr.-Ing. habil.
Jens Lienig
jens.lienig ifte.de
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